ZR-GDZ02型 光电成像基础与应用实验台

一、设备基础简介
光电成像基础与应用实训台含有概括CCD和CMOS两大方面，这两方面原理与应用是《光电技术》和《图像传感器应用技术》课程重要章节，也是教学的难点章节，--monxyuan研发了光电成像基础与应用实训台。该平台应用搭建式、开放式设计，直观展现了线阵CCD、面阵CCD和CMOS的作业原理，并而且设定了工程实际检验测试的实训，是学员理解和认知CCD和CMOS作业原理与实际应用的最理想的教学实训系统。

二、教学目的
1. 理解并掌控把握线/面阵CCD和CMOS的原理；
2. 理解线/面阵CCD和CMOS的系统使用方法；
3. 理解并掌控把握面阵CCD和CMOS信号处置整理方法；
4. 理解并掌控把握运用面阵CCD和CMOS实行尺寸测量和图像处置整理的方法；
5. 理解并掌控把握学员掌控把握线阵CCD的几种经典型的应用；
三、主要技术功能数值
1. 内置黑白面阵CCD：有效像元数：768(水平)×576(垂直)；电子快门：1/50～1/80,000秒，自动连续调节；
2. 外接彩色面阵CCD：有效像元数：768(水平)×576(垂直)；电子快门：1/50～1/80,000秒，自动连续调节；
3. 图像收集卡：8bit分辨率，黑白、彩色8bit×3收集；USB2.0连接口；
4. 线阵CCD传感器，TCD1206D，有效像元数：2160；像元尺寸：14μm×14μm，相邻像元中心距14μm；
5. 信号输出电器特性：模仿信号输出5V；数字信号输出，TTL电平；
6. 实操系统：兼容Microsoft Windows98、Windows2000、WindowsXP、Windows7、Windows10；
7. 数值收集系统：8位分辨率，USB2.0方法，速度不低于5MHz的高速数值收集系统；
8. 光源：白色LED远心照明光源；白色LED均匀光源；
9. 成像物镜：焦距：50mm；相对孔径：2；
10. 图像传感器：1/4″CMOS彩色；
11. 感光面积：4.9mm×3.7mm；
12. 信号系统：PAL/NTSC；
13. 有效像素768(H)×494(V)；
14. 功率（W）消耗：小于3.5W；
15. 电源：12V ；
16. 作业温度（℃）：-20°C～+55°C；
17. 感光芯片：1/4"OV5116B/WCMOS
18. 感光面积：3.2mm*2.5mm
19. 清晰度：240TVlines
20. CPLD:最大延迟时间tpd(1)10.0ns；电压（V）电源内部3V~3.6V逻辑元件/逻辑块数目4；宏单元数64；门数1250；写入/输出数34；作业温度（℃）0°C~85°C；
四、实训内容
1. 面阵CCD原理与驱动实训；
2. 面阵CCD数值收集与计算机数值连接口实训；
3. 面阵CCD边缘与轮廓检验测试；
4. 面阵CCD物体尺寸测量实训；
5. 面阵CCD图像的点运算；
6. 面阵CCD图像的几何变换；
7. 面阵CCD图像收集与功能数值设定；
8. 面阵CCD投影与差影图像解析；
9. 面阵CCD图像的滤波与增强；
10. 面阵CCD形态学处置整理；
11. 面阵CCD旋转与缩放；
12. 面阵CCD颜色识别与变换；
13. 面阵CCD图像收集程序设计；
14. 线阵CCD作业原理与驱动波动线查看；
15. 线阵CCD模仿输出信号的调节；
16. 经过收集卡对线阵CCD的模仿输出信号实行A/D变换和数值收集；
17. 经过系统浮动阈值对CCD的输出信号实行二值化处置整理；
18. 运用线阵CCD对物体尺寸实行非接触的就地实时测量；
19. 运用线阵CCD对物体的角度实行测量；
20. 运用线阵CCD测量物体的振动；
21. 运用线阵CCD识别一维条形码；
22. 运用线阵CCD扫描物体的二维图像；
23. 运用外置相机实行实物尺寸测量
24. 用硬件提取边缘信号的二值化
25. CMOS原理与驱动实训；
26. CMOS数值收集实训；
27. CMOS图像收集程序设计
28. CMOS用来边缘与轮廓检验测试实训；
29. CMOS用来物体的尺寸测量实训；
30. CMOS用来图像收集与功能数值设定实训；
31. CMOS用来投影与差影图像解析实训；
32. CMOS用来图像的滤波与增强实训；
33. CMOS用来颜色识别与变换实训；
34. 拓展性实训
（1）经过提供的CPLD程序，学员可以理解CPLD对外围器件的控制；
（2）有能力的学员还可以自己编程来产生方波；
（3）经过提供的SDK和DEMO程序，编写程序来收集拓展相机的数字信号；
（4）运用拓展相机并编写系统实行其他如尺寸测量等实训等；
五、配套文件图纸文档实训指导书
1. 实训指导书1本；
2. 实训系统1套；
3. 实训影像光盘1套；